菲希爾XDL 系列測厚儀信息

德國菲希爾 X 射線測厚儀 XDL 系列，是一款應用廣泛的能量色散型 X 射線鍍層測厚及材料分析儀。該系列儀器專為滿足多樣化的工業(yè)需求而設(shè)計，在質(zhì)量控制、進料檢驗和生產(chǎn)流程監(jiān)控等方面發(fā)揮著重要作用。

XDL 系列采用基本參數(shù)法，這一先進技術(shù)使得儀器無論是對鍍層系統(tǒng)，還是對固體和液體樣品，均可在無標準片的情況下進行精準測量和分析，測量范圍覆蓋元素氯（17）到鈾（92）。

該系列根據(jù)不同的預期用途，提供多種版本。XDL 210 型配備固定式工作臺與固定位置的 Z 軸系統(tǒng)；XDL 220 型的工作臺同樣固定，但采用馬達驅(qū)動的 Z 軸系統(tǒng)；XDL 230 型設(shè)有可手動操控的 X/Y 工作臺，搭配馬達驅(qū)動的 Z 軸升降系統(tǒng)；XDL 240 型則具備馬達驅(qū)動的 X/Y 工作臺，且當保護門開啟時，工作臺會自動移至樣品放置位置，其 Z 軸升降系統(tǒng)還可編程。